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韓國Micro Pioneer X射線鍍層測厚儀/膜厚儀

  • 型   號:XRF 2000
  • 價   格:

1. H-Type :密閉式樣品室,方便測量的樣品較大,高度約100mm以下。 2. L-Type : 密閉式樣品室,方便測量 樣品較小,高度約30mm以下。 3. PCB-Type : 開放式樣品室,方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下的量測

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韓國Micro Pioneer XRF 2000 X射線鍍層測厚儀/膜厚儀

產品介紹
螢光射線膜厚分析儀是利用 XRF 原理來分析測量金屬厚度及物質成分,可用於材料的涂層 / 鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測。  
XRF-2000 系列分為以下三種:  
1. H-Type :
密閉式樣品室,方便測量的樣品較大,高度約100mm以下。  
2. L-Type : 
密閉式樣品室,方便測量 樣品較小,高度約30mm以下。  
3. PCB-Type : 
開放式樣品室,方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下的量測 。   
應用 : 
測量鍍金、涂層、薄膜、元素的成分或者是厚度,其可偵測元素的范圍: Ti(22)~U(92 )。   
行業 : 
五金類、螺絲類、 PCB 類、連接器端子類行業、電鍍類等。   
特色 :
  
非破壞,非接觸式檢測分析,快速精準。 
  
可測量高達六層的鍍層 (五層厚度   底材 ) 并可同時分析多種元素。 
  
相容Microsoft微軟作業系統之測量軟體,操作方便,直接可用Office軟體編輯報告 。 
  
全系列獨特設計樣品與光徑自動對準系統。 
  
標準配備溶液分析軟體 ,可以分析電鍍液成份與含量。 
準直器口徑多種選擇,可根據樣品大小來選擇準值器的口徑。  
  
移動方式:全系列全自動載臺電動控制,減少人為視差 。  
  
獨特2D3D或任意位置表面量測分析。 
  
雷射對焦,配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。 
標準ROI軟體 搭配內建多種專業報告格式,亦可將數據、圖形、統計等作成完整報告 。 
光學2 0X 影像放大功能,更能精確對位。  
單位選擇: mils 、 uin 、 mm 、 um 。 
  
優於美製儀器的設計與零件可 靠度以及擁有價格與零件的*優勢。  
  
儀器正常使用保固期一年,強大的專業技術支援及良好的售后服務。 
  
測試方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568  DIN 50987。 
 
韓國Micro Pioneer 還推出一款元素分析及測厚兩用的XRF-2000R型號
Micro Pioneer XRF-2000R X光鍍層測厚儀及ROHS元素分析儀
是在XRF-2000系列測厚儀的基礎上增加了元素分析及有害物質檢測的功能,
其物點為:高分辨率,固態探測器; 可分析超薄樣品
分析有害物質,元素分析分之 ppm - 100%, 符合RoHS / WEEE標準測試以及ELV指令優化的應用;
可測量多層鍍層厚度及錫鉛成分分析;
電鍍溶液分析;
定性分析超過30種元素,能夠測量液體,固體,粉末,薄膜和不規則形狀;
貴金屬元素含量和分析(金,銀,鉑,和珠寶);
自動過濾器,多準直儀(五個準直器,從0.1mm-3.0mm)和全自動XYZ移動樣品臺;
性價比*的元素分析及鍍層測厚雙功能分析儀器
儀器尺寸:W610mm D670mm H490mm, 重量:75Kg (net)                              
可測量樣器大?。篧550mm D550mm H30mm                      

 

如需更詳細資料或報價請資詢:
86-755-82413890

李瑞軀

86-755-82413857
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: mfyu2010
Web:
www.eastco-hk。。com

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